471-TT Version L

一站式静态与雪崩测试解决方案。

与东京精密AP3000深度融合，专为功率器件研发打造的可多芯片同时测试方案。
可实现12寸大直径晶圆的高质量，高精度测试。DC静态与雪崩测试一次完成，大幅度缩短测试交期。

特点

・无缝测量
　可实现从DC（大电流、高耐压）到L负载（雪崩）的连续、顺畅测量。
・高质量、优化的测量环境
　通过WTS（晶圆测试系统）、DARUMA平台、高压防打火等功能，提供更高质、更优化的测量环境。
・支持四芯片同时测量
　多芯片的同时测量大幅提高生产效率。
・L负载测量时的高速切断功能
　当产品出现异样时，可在极短时间内（500nS以下）切断测试回路并保护产品。