3430-SW

测试机

3430-SW用于测量IGBT/MOSFET器件的动态特性。
具备高速稳定低Ls高等特点，除通常动态测试项目外还具备测试RBSOA/SCSOR/RRSOA的能力。

・低电感结构再现理想波形
・高速波形分析大大缩短了传统模型的测试时间

项目	开关时间测量	I-短路测量	trr测量
VCE	30~1,500 V（步长为 1 V）	30~1,500 V（步长为 1 V）	30~1,500 V （步长为 1 V）
IC了	1~300 A（步长为 1 A）	1~1,000 A（步长为 1 A）	1~300 A （步长为 1 A）
IC Trip行	1~300 A（步长为 1 A）	–	1~300 A （步长为 1 A）
IC最大值	1~1,000 A（步长为 1 A）	1~1,000 A（步长为 1 A）	1~1,000 A （步长为 1 A）
VGE	±30.0 V（步长为 0.1 V）	±30.0 V（步长为 0.1 V）	±30.0 V （步长为 0.1 V）
RG	1~250 Ω（步长为 1 Ω）	1~250 Ω（步长为 1 Ω）	1~250 Ω （步长为 1 Ω ）
Pulse	单/双	单	双
T1	000.1 微秒~50.0 毫秒（步长为 0.1 微秒）	000.1~50.0 微秒（步长为 0.1 微秒）	000.1 µ~50.0 毫秒（步长为 0.1 微秒）
T2	000.1~999.9 微秒（步长为 0.1 微秒）	–	000.1~999.9 微秒（步长为 0.1 微秒）
T3	000.1~999.9 微秒（步长为 0.1 微秒）	–	000.1~999.9 微秒（步长为 0.1 微秒）
R Load	插入	–	–
L Road	插入	–	插入
Pre-Check	GS 短路/开路/短路/泄漏	GS 短路/开路/短路/泄漏	Vdsf (DUT)/ GS 短路 /开路/短路/ 泄漏（虚拟）
Post-Check票	漏电	漏电	漏电(模拟)
测试项目	td(开)/td(关)/ton/toff/tr/tf/ Eon/Eoff/IC0	SC	trr/ trr1/ trr2/ Irr/ Qrr/ Qrr1/ Qrr2/IF/ dIF/dt/ dI (rec)M/dt
测试时间	230 毫秒	140 毫秒	250 毫秒
DOS	HDO4104A (TELEDYNE LECROY)	–	HDO4104A (TELEDYNE LECROY)