431-TT

個別半導体を中心とした素子の静特性を測定するテストシステムです。
メインフレームでは標準で1.2KV/65A(C-E間のみ130A)を印加する能力を持ち、2.2kV/65A(C-E間のみ200A)まで印加範囲を拡張する事が可能です。
また、オプションユニットを追加する事により5kV/1200Aまでの測定に対応する事が可能です。
プローバやハンドラ等の搬送装置と組み合わせて使用する事でウェーハテスト・ファイナルテスト等、様々な用途で使用する事ができる汎用性の高いテスタです。

特徴

・VI ソースメジャモジュール構成
・本体で1.2KV/130A (最大2.2KV/200A) まで測定可能
・高速測定
・マルチデバイステスト（2 in 1デバイスなど2 DUT同測）
・ウェーハパラレルテスト (2 チップの同測)・PC画面上　波形モニタ・弊社既存製品の大電流ユニット、高電圧ユニット使用可能