製品情報
Product
フィルムフレームテストハンドラ (MAPハンドラ)
5170-IH
5170-IHは、QFN、BGA、WLCSPなどのリードレスデバイスをダイシング後、そのままウェハリング上でテストするハンドラです。高低温測定可能。リング上でテストするため、測定前にビジュアルによる位置補正(x y z θ)をすることにより、デバイスの正確な位置情報とプローブピンの最適な測圧がストリップ上の全デバイスを通して保たれ、安定した測定と高速インデックスを実現します。
特徴
・ハイスループット
・高耐荷重、高推力テーブル
・ストリップ貼り付けエリアを拡大:縦300mm×横300mm以内
(WLCSPはφ300mm以内)
・バーコード/2DコードリーダによるLOT管理対応
・品種の切り替えは測定ソケット交換と画面設定だけの簡単交換
・任意のタイミングでソケットをクリーニングできる
オートクリーニング機構搭載
・8/12インチリングのコンバージョンが可能
・S2/S8規格対応
・SEMI G85準拠
・SECS/GEM対応
・高温測定 155degC度まで、低温測定-45degCまで対応
モデル | 5170-IH |
対象パッケージ |
QFN, DFN, CSP, BGA, BCC, LLP, WLCSP |
対象リングサイズ |
8 / 12 インチ |
測定ステーション数 |
マルチパラレル |
コンタクト方式 |
ポゴピン、指定コンタクタ |
供給 |
1 カセット(ウェハリング25枚/8インチ、13枚/12インチ収納) |
収納 |
1 カセット(ウェハリング25枚/8インチ、13枚/12インチ収納) |
常温/高温測定 |
5170-IH Version D 常温から+155degC |
常温/高温/低温測定 |
5170-IH Version T ー45から+155degC |
-
Contact
-
代表 tel.042-566-1111
8:30 ~ 17:30