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测试机
4602-LV
4602-LV 旨在通过监测电感负载的关断波形,根据波形如何通过 V-GATE、IH 和 IL 指定的安全工作区 (SOA) 来评估雪崩电阻。也可以测量 IH 指定电流值的 VDS(SUS)。
在以往的测量方法中,施加电流受施加电压的限制,而且MOSFET具有导通电阻越小,测量所需电流越大的特性;因此,该方法变得难以测量中等击穿电压(几十个电压)的MOSFET。
为了完成这项任务,增加了新的测量方法*来进行大电流测量,并且该测试仪可以施加的电压和电流分别增加到300 V和200 A,从而可以测量更广泛的设备。
*添加了 VD-OFF 模式以在雪崩时隔离 VD 电源,并添加了 Time-Trip 模式以在施加电流指定时间后关闭设备。
特点
・使用一个测试头进行 N/P 通道测量
・雪崩测试中的峰值电流 (IDP) 测量
・栅极开启时间测量
・重复测试多达 250 次
・多重测试功能(固定VD)
・60 可存储测试程序
・可编程线圈自动切换线圈(选项)
・VD-OFF 模式(针对低导通电阻 MOSFET 进行了优化)
・自检功能
・时间旅行模式
■可选软件示例
・从 PC 控制测试仪的软件
(测试程序创建、数据收集和计数器收集)
项目 | 规格 |
漏极电流 (Id) |
0.5~200.0 A |
峰值漏极电流 (Idp) |
0.5~250.0 A |
漏极电压 (Vd) |
VD-ON 模式:10.0~300.0 V VD-OFF 模式:10.0~200.0 V |
栅极电压 (Vg)反向栅极电压 (Vgr) |
00.0~30.0 V 00.0~30.0 V |
钳位电压 |
松开 |
电压限制 (V-GATE) |
0000~2000 V 000.0~200.0 V |
IH 限制 |
000.5~200.0 A |
IL限制 |
000.1~200.0 A |
栅极开启时间 (TG) |
000.0 微秒~9.999 毫秒 |
后短路检测时间 (DT) |
001 微秒~9.99 毫秒 |
※VD-ON 模式:10.0~300.0 V(传统 3702-LV 的测量方法) ※VD-OFF 模式:10.0~200.0 V(新测量方法) |
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